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兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
更多 +產(chǎn)品名稱: 兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型有:50L、100L、150L、216L、的內(nèi)箱尺寸;
備注:其他尺寸可非標(biāo)定制產(chǎn)品,具體規(guī)格參數(shù)以方案書為準(zhǔn)。
高溫沖擊范圍:+60℃~+150℃(可定制+200℃)
低溫沖擊范圍:X:0℃~-65℃、F:0℃~-55℃、L:0℃~-40℃(可選)
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溫度沖擊試驗(yàn)箱
更多 +品牌:瑞凱/RIUKAI
型號(hào):RK-TS-150
高溫:+60℃~+150℃(非標(biāo)可定制180℃、200℃)
低溫:A(-10℃~-40℃);B(-10℃~-55℃);C(-10℃~-65℃)
升溫時(shí)間:常溫~+200℃≤15 min
降溫時(shí)間:A(+20℃~-55℃)≤70min;B(+20℃~-65℃)≤80min;C(+20℃~-80℃)≤90min
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高低溫沖擊試驗(yàn)箱
更多 +內(nèi)箱容積(可選):50L/100L/150L/200L/300L
溫變范圍(可選): 高溫:-70℃~+150℃ 低溫:A(-10℃~-40℃);B(-10℃~-55℃);C(-10℃~-65℃)
升溫時(shí)間:常溫~+200℃≤15 min
吊籃移動(dòng)時(shí)間:10 S以內(nèi)
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn): 滿足GB/T2423.22(IEC60068-2-14);ISO16750;IPC-TM-650;JESD22等系列標(biāo)準(zhǔn)中的溫度沖擊試驗(yàn)。
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三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
更多 +產(chǎn)品名稱: 三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型有:50L、100L、150L、216L、的內(nèi)箱尺寸;
備注:其他尺寸可非標(biāo)定制產(chǎn)品,具體規(guī)格參數(shù)以方案書為準(zhǔn)。
高溫沖擊范圍:+60℃~+150℃(可定制+200℃)
低溫沖擊范圍:X:0℃~-65℃、F:0℃~-55℃、L:0℃~-40℃(可選)
- [技術(shù)文章]IC芯片行業(yè)中溫度沖擊試驗(yàn)箱的介紹2020年11月02日 08:55
- 在IC芯片行業(yè),溫度沖擊試驗(yàn)是評(píng)估IC產(chǎn)品中具有不同熱膨脹系數(shù)的金屬之間的界面的接觸良率。方法是通過(guò)循環(huán)流動(dòng)的液體從高溫到低溫重復(fù)變化。在快速溫度變化的過(guò)程中(比如日夜溫差,突然下雨,四季變化等),芯片會(huì)出現(xiàn)熱疲勞而失效,其能快速驗(yàn)證芯片封裝材料、制程工藝等瑕疵。
- 閱讀(123) 標(biāo)簽:
- [技術(shù)文章]解讀溫度變化試驗(yàn)的三種方法2020年10月31日 08:52
- 溫度變化試驗(yàn)的三種方法對(duì)于研制過(guò)程中新產(chǎn)品,如何確定循環(huán)次數(shù),從統(tǒng)計(jì)規(guī)律中總結(jié)出來(lái)的經(jīng)驗(yàn)說(shuō)明,產(chǎn)品的故障率同溫度的變化的循環(huán)次數(shù)有關(guān),也同產(chǎn)品所含有的元器件、零部件的數(shù)量有關(guān)。
- 閱讀(211) 標(biāo)簽:
- [常見問答]溫度沖擊試驗(yàn)箱是怎樣保持溫度“沖擊性”2020年10月10日 11:29
- 溫度沖擊試驗(yàn)箱也稱作“高低溫沖擊性試驗(yàn)箱、熱冷沖擊性試驗(yàn)箱”,做為一款仿真模擬極端溫度自然環(huán)境的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,通常用以電子設(shè)備等制造行業(yè)。隨之現(xiàn)如今的智能科技,很多的創(chuàng)新產(chǎn)品被很多的開發(fā)設(shè)計(jì)研發(fā)出去,而電子產(chǎn)業(yè)做為一個(gè)新新迅速發(fā)展趨勢(shì)的行業(yè),每一年有很多的商品被開發(fā)設(shè)計(jì)并投放市場(chǎng),而在這種商品的身后,通常親身經(jīng)歷過(guò)很多的實(shí)驗(yàn),在其中溫度實(shí)驗(yàn)被列為比成自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)。
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- [技術(shù)文章]溫度循環(huán)與冷熱沖擊試驗(yàn)的區(qū)別2020年09月09日 10:09
- 溫度沖擊試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):IEC60068-2-14,GB2423.22,GJB150.5 等。而溫度循環(huán)試驗(yàn)影響篩選結(jié)果的主要參數(shù)為溫度變化范圍、溫度變化速率及循環(huán)次數(shù)。通常適用于組件級(jí)篩選。篩選溫度時(shí)間歷程考忠受篩產(chǎn)品通電和不通電兩種情況。
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